基于非均匀设计的高口径效率Fabry-Perot谐振腔天线

• 作者: 文鸿 陈星
• 来源期刊: 太赫兹科学与电子信息学报
• 学科: 工学
• 关键词: 口径效率 F-P谐振腔天线 非均匀特异媒质覆盖层 非均匀特异媒质反射地
• 年，卷（期）: 2018,（1）
• 所属期刊栏目: 电磁场与微波
• 页码范围: 115-118,125
• 页数: 5页
• 分类号: TN828
• 字数: 1863字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11805/TKYDA201801.0115

摘要

Fabry-Perot(F-P)谐振腔天线通常易实现高增益,但由于口径场非均匀的电磁场分布,使得其在大口径尺寸下的口径效率较低.本文设计了一种新型的F-P谐振腔天线,该天线采用非均匀特异媒质覆盖层实现口径场等幅分布,并通过非均匀特异媒质反射地实现口径场同相分布,从而提升F-P谐振腔天线在大口径尺寸下的口径效率.基于射线追踪法,推导了非均匀覆盖层和非均匀反射地的设计公式.本文设计、加工并测试了一款口径尺寸为5.18 λ(λ为自由空间波长)的圆形F-P谐振腔天线.仿真和测试结果吻合良好,|S11|<-10 dB的阻抗带宽为4.14%(5.740~5.980 GHz);在工作频点5.8 GHz处,该新型F-P谐振腔天线的增益为23.8 dBi,与传统F-P谐振腔天线相比,其口径效率从78.9%提高到90.5%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈星	四川大学电子信息学院	73	317	10.0	15.0
2	文鸿	四川大学电子信息学院	1	0	0.0	0.0