下一代光传输系统DAC芯片动态性能测试方法

• 作者: 张驰 菅端端
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 数模转换器 光传输系统 增益补偿
• 年，卷（期）: 2018,（5）
• 所属期刊栏目: 研究与设计
• 页码范围: 42-46
• 页数: 5页
• 分类号: TN492
• 语种: 中文
• DOI: 10.19651/j.cnki.emt.1701261

摘要

针对下一代光传输系统对数模转换器(DAC)高采样率、大带宽的要求,提出针对该类DAC动态性能的测试方法.通过分析光传输系统中DAC芯片的特点,解决了内部预设波形无法直接测量,采样时钟不能直接捕获,分辨率不易统计,差损的非线性导致带宽测量产生偏差等问题,并将该测试方法应用于国家高技术研究发展计划(863计划)“下一代光传输系统中高速模数转换(ADC)/数模转换(DAC)芯片和关键技术研究”项目的评测中.测试结果表明,该方法解决了最高采样率70 GSPS带宽16 GHz的超高速DAC测试中的一些关键问题,基本可以满足下一代400 Gbps光传输系统对DAC的动态性能测试要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	菅端端		4	5	2.0	2.0
2	张驰		9	29	3.0	5.0