缩短相控阵天线的测试周期

• 作者: 刘灵鸽 李黎 雪玉红
• 来源期刊: 质量与可靠性
• 关键词: 天线 测试周期 相控阵 QC小组
• 年，卷（期）: 2018,（1）
• 所属期刊栏目: QC平台
• 页码范围: 62-66
• 页数: 5页
• 字数: 3993字
• 语种: 中文

摘要

相控阵天线阵元数量大、集成度高,其测试项目较一般天线多,由此导致其测试周期比一般天线长2倍～3倍,较长的研制周期严重制约了相控阵天线批产工作.小组为了解决这一问题,运用关联图进行原因分析,通过现场调查、测试验证等收集大量的数据,最终找到主要影响因素并制定针对性对策,圆满达成课题目标,缩短了相控阵天线的测试周期.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李黎		1	0	0.0	0.0
2	刘灵鸽		6	4	1.0	2.0
3	雪玉红		2	0	0.0	0.0