EM效应下众核处理器可靠性研究

• 作者: 张凌嘉 肖芳雄 覃志东
• 来源期刊: 成都大学学报（自然科学版）
• 关键词: 众核处理器 可靠性 流程序 EM效应
• 年，卷（期）: 2018,（3）
• 所属期刊栏目: 信息科学与技术
• 页码范围: 286-290,295
• 页数: 6页
• 分类号: TP302.7
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-5422.2018.03.014

摘要

在EM效应下,以众核流程序为软件模型,建立了2D-Mesh结构众核处理器的可靠性模型.仿真研究表明:对于同一众核平台,当总体负载一定时,随着被分配任务核心的增加,单个任务周期内的处理器核心老化效应增大;当被绑定核心的数量一定时,核心在处理器土的位置越分散,核心的老化效应越低.研究的结论有利于高可靠众核系统的设计.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	覃志东	东华大学计算机科学与技术学院	19	83	4.0	8.0
2	肖芳雄	金陵科技学院软件工程学院	3	2	1.0	1.0
3	张凌嘉	东华大学计算机科学与技术学院	1	0	0.0	0.0