饰品银含量和覆盖层厚度的X射线荧光检测

• 作者: 吴奕阳 杨鹔 黄国芳
• 来源期刊: 贵金属
• 学科: 化学
• 关键词: 分析化学 X射线荧光法 银饰品 覆盖层厚度 样品总厚度
• 年，卷（期）: 2018,（z1）
• 所属期刊栏目: 贵金属分析测试
• 页码范围: 185-187
• 页数: 3页
• 分类号: TS934.3|O657.34
• 字数: 2230字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-0676.2018.z1.034

摘要

采用X射线荧光显微仪和X射线荧光镀层测厚仪,以及K值计算法,对银饰品中银含量、镍覆盖层厚度和样品总厚度进行检测研究.银含量检测的结果与国家标准溴化钾容量法(电位滴定法)(GB/T 17832-2008)的检测结果吻合.