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废弃电路板电子元件低温脱焊研究
废弃电路板电子元件低温脱焊研究
作者:
刘勇
刘牡丹
刘珍珍
周吉奎
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
废弃电路板
电子元件
低温脱焊
低熔点合金
摘要:
采用低熔点合金融锡法分离废弃电路板上的电子元件,分别以铅锡焊料和无铅焊料电路板为原料研究了温度和保温时间对电子元件分离率的影响,得到铅锡焊料电路板脱焊的优化条件:温度为150℃、保温时间4 min;无铅焊料电路板脱焊的优化条件:温度为180℃、保温时间7 min.在优化条件下,电子元件分离率分别可达到97.38%和95.25%.与其它脱焊方法相比,低熔点合金融锡法可有效降低焊料的熔化温度,减轻环境污染,具有显著的优势.
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文献信息
篇名
废弃电路板电子元件低温脱焊研究
来源期刊
有色金属工程
学科
工学
关键词
废弃电路板
电子元件
低温脱焊
低熔点合金
年,卷(期)
2018,(6)
所属期刊栏目
环境科学与工程
研究方向
页码范围
112-116
页数
5页
分类号
TQ110.6
字数
2347字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.2095-1744.2018.06.022
五维指标
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引文网络
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节点文献
废弃电路板
电子元件
低温脱焊
低熔点合金
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
有色金属工程
主办单位:
北京矿冶研究总院
出版周期:
月刊
ISSN:
2095-1744
CN:
10-1004/TF
开本:
16开
出版地:
北京南四环西路188号总部基地18区23号楼
邮发代号:
创刊时间:
1949
语种:
chi
出版文献量(篇)
3344
总下载数(次)
7
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