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摘要:
改型Wollaston棱镜(MWP)无需中继,可构建微型傅里叶变换光谱仪.回顾了MWP的基本原理,从调制度定义出发,计算得到准单色光源的复相干度,找到调制度的影响因素——扩展视场、剪切结构、焦面探测等.建立一般的干涉定域分析模型后,由像点逆光路追迹给出MWP的厚度计算公式,代入调制度约束参数得到不同参量的误差容限.通过FRED记录不同视场扩展情况的灰度与辐照度,结果显示,调制度为0.9时,视场与理论估算值1.24°基本相符;不同剪切量的灰度与辐照度变化特性表明,结构角会使定域垂直系统光轴的入射角发生变化,与晶轴倾角共同影响双折射率差;2.5和8μm像元探测采样表现出调制度差异,描述了定域深度或离焦的影响.以准单色光源、复相干度表示调制度,可将不同影响因素统一至约束参数中,相关变量误差容限可作为MWP-FTS的设计依据.
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文献信息
篇名 改型Wollaston棱镜干涉光谱仪的调制度研究
来源期刊 半导体光电 学科 物理学
关键词 改型Wollaston棱镜 干涉调制度 复相干度 误差容限
年,卷(期) 2018,(6) 所属期刊栏目 光电系统
研究方向 页码范围 879-885
页数 7页 分类号 O436
字数 语种 中文
DOI 10.16818/j.issn1001-5868.2018.06.025
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 黄旻 中国科学院光电研究院计算光学成像技术重点实验室 49 411 12.0 18.0
2 丛麟骁 中国科学院光电研究院计算光学成像技术重点实验室 9 16 3.0 3.0
6 才啟胜 中国科学院光电研究院计算光学成像技术重点实验室 7 6 2.0 2.0
7 齐云松 中国科学院光电研究院计算光学成像技术重点实验室 3 4 1.0 2.0
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复相干度
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半导体光电
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1001-5868
50-1092/TN
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