首发精神分裂症患者前额叶皮质T2信号强度变化的MRI研究

• 作者: 孙洪言 宋慧慧 张媛 贾金星 顾卫国
• 来源期刊: 中国中西医结合影像学杂志
• 关键词: 精神分裂症 前额叶皮质 磁共振成像
• 年，卷（期）: 2018,（3）
• 所属期刊栏目: 论著
• 页码范围: 235-237
• 页数: 3页
• 字数: 2567字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-0512.2018.03.005

摘要

目的:探讨首发精神分裂症(SZ)患者前额叶皮质各部MRI T2信号强度值的变化,为SZ的临床早期诊断提供影像学帮助.方法:收集首发SZ患者34例和健康对照组35例.所有受试者均行快速自旋回波T2序列,并在工作站上手动勾画前额叶皮质各亚区ROI,测量其T2信号强度值.分析T2信号强度与阳性和阴性症状量表(PANSS)评分的相关性.结果:SZ患者额上回T2信号强度值与对照组比较差异有统计学意义(t=2.17,P<0.05);额极、额中回、额下回T2信号强度值与对照组比较差异均无统计学意义(t=1.05、0.61、0.87,均P>0.05).额上回T2信号强度值与PANSS阴性症状分数、PANSS总分均呈正相关(r=0.54、0.51,均P<0.01).结论:额上回T2信号强度值的改变,可为SZ早期诊断提供影像学帮助.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张媛	苏州大学附属广济医院影像科	22	28	3.0	4.0
2	宋慧慧	苏州大学附属广济医院影像科	4	7	1.0	2.0
3	顾卫国	苏州大学附属广济医院影像科	4	7	1.0	2.0
4	孙洪言	苏州大学附属广济医院影像科	4	7	1.0	2.0
5	贾金星	苏州大学附属广济医院影像科	1	1	1.0	1.0