质子单粒子效应引发卫星典型轨道下 SRAM在轨错误率分析

• 作者: 张付强 覃英参 郭刚 陈启明
• 来源期刊: 航天器环境工程
• 学科: 物理学
• 关键词: 空间辐射环境 单粒子效应 在轨错误率 轨道参数 回旋加速器
• 年，卷（期）: 2018,（4）
• 所属期刊栏目: 技术实践
• 页码范围: 365-370
• 页数: 6页
• 分类号: V520.6|O483
• 字数: 3275字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-1379.2018.04.010

摘要

利用中国原子能科学研究院100 MeV质子回旋加速器(CY CIAE-100)的单粒子效应辐照装置,测量了典型静态随机存储器(SRAM)的质子单粒子翻转截面;利用Space Radiation 7.0软件计算了卫星搭载该器件在典型轨道条件下运行的在轨错误率;同时研究了航天器在不同轨道高度、轨道倾角和屏蔽条件下对质子单粒子效应引发的在轨错误率的影响.计算结果表明:航天器运行于地球同步轨道高度及以下时,质子单粒子效应引发的在轨错误率均高于重离子的,最高可相差3个数量级左右.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭刚	中国原子能科学研究院国防科技工业抗辐照应用技术创新中心	34	65	4.0	7.0
2	覃英参	中国原子能科学研究院国防科技工业抗辐照应用技术创新中心	4	3	1.0	1.0
3	张付强	中国原子能科学研究院国防科技工业抗辐照应用技术创新中心	4	7	2.0	2.0
4	陈启明	中国原子能科学研究院国防科技工业抗辐照应用技术创新中心	4	7	2.0	2.0