电平转换电路的NBTI老化分析与容忍设计

• 作者: 周光辉 方凯 易茂祥 黄正峰
• 来源期刊: 微电子学
• 学科: 工学
• 关键词: 负偏置温度不稳定性 电平转换电路 老化容忍
• 年，卷（期）: 2018,（3）
• 所属期刊栏目: 电路与系统设计
• 页码范围: 353-358
• 页数: 6页
• 分类号: TN406
• 语种: 中文
• DOI: 10.13911/j.cnki.1004-3365.170340

摘要

电平转换电路是多电压设计中重要的组成部分,用来满足不同电压域间信号的传递.基于32 nm CMOS工艺,在100℃下,分析了NBTI老化对传统电平转换电路的影响,并提出应对老化的方案.设计了一种改进的老化容忍的电平转换电路,限制了交叉耦合对的竞争,并采用多阈值技术平衡了功耗与时延.仿真结果表明,与原电路相比,该电路可以在更低的输入电压下正常工作.不同输入电压下,功耗和时延大幅降低.该电路具有很好的老化容忍能力.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄正峰	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	101	590	14.0	19.0
2	易茂祥	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	109	559	12.0	19.0
3	周光辉	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	3	4	2.0	2.0
4	方凯	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	5	14	2.0	3.0