阵列天线失效单元的诊断研究

• 作者: 朱宁龙 高鑫
• 来源期刊: 舰船电子工程
• 学科: 工学
• 关键词: 阵列天线 失效单元 诊断
• 年，卷（期）: 2018,（8）
• 所属期刊栏目: 可靠性、保障性技术与效能分析
• 页码范围: 146-150
• 页数: 5页
• 分类号: TN821
• 字数: 2026字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-9730.2018.08.033

摘要

为了快速而正确地找到阵列天线失效单元的位置,论文首先提出一种对阵列天线失效单元进行诊断的算法,然后通过计算机仿真并给出仿真结果,最后在实际测试过程中,通过引入失效单元,并利用算法程序对其进行诊断,以验证算法的正确性与有效性.测试结果表明,该算法可以准确诊断出失效单元的位置,并可以直接应用到实际工程实际过程中.