背景光对恒虚警下APD探测性能影响评估方法

• 作者: 刘贺雄 周冰 范磊 贺宣 高宇辰
• 来源期刊: 半导体光电
• 学科: 工学
• 关键词: 背景辐射 雪崩光电二极管 恒虚警率 探测能力 评估方法
• 年，卷（期）: 2018,（6）
• 所属期刊栏目: 光电系统
• 页码范围: 863-867,873
• 页数: 6页
• 分类号: TN215
• 语种: 中文
• DOI: 10.16818/j.issn1001-5868.2018.06.022

摘要

针对恒虚警工作方式下,噪声、信号及倍增因子之间相互作用的问题,分析了倍增因子、背景辐射对APD探测系统性能的影响以及恒虚警补偿方式的工作原理,建立了恒虚警下背景辐射与倍增因子的关系模型.通过求取有、无背景光时系统可探测到的最小信号功率,建立了APD性能的评估模型,设计实验对模型进行了验证,利用该模型分析了不同噪声对APD探测性能的影响.结果表明,随着背景光增强,其对APD的性能影响逐渐增大,且增大速率逐渐减缓;暗电流噪声较小时,背景光对APD作用较为明显,随着暗电流噪声的增大,背景光对系统影响迅速减小,最终趋于平稳;背景光对APD的影响随热噪声、放大电路噪声的增大而均匀增大.