强光作用下光电成像系统饱和效应研究

• 作者: 刘小虎 官上洪 杨海波 邵铭
• 来源期刊: 光电技术应用
• 学科: 工学
• 关键词: 饱和效应 饱和像元数 衍射效应 PSF
• 年，卷（期）: 2018,（3）
• 所属期刊栏目: 激光技术
• 页码范围: 21-24,78
• 页数: 5页
• 分类号: TN206
• 字数: 2777字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-1255.2018.03.006

摘要

通过强光辐照光电成像系统实验研究,得到了饱和像元数与入射光强、光学系统参数、像元饱和阈值等参数之间的变化规律,并利用光学系统点扩展函数(PSF)进行了理论验证.结果表明,饱和像元主要由衍射效应引起.推导了饱和像元数与入射光强、波长、光学系统参数、像元饱和阈值等参数之间的关系.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨海波		7	11	2.0	3.0
2	官上洪		4	5	2.0	2.0
3	邵铭		2	3	1.0	1.0
4	刘小虎		3	3	1.0	1.0