假冒翻新集成电路的危害与识别方法

• 作者: 来启发 范春帅 陆定红
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 进口集成电路 假冒伪劣 翻新 可靠性 质量控制
• 年，卷（期）: 2018,（z1）
• 所属期刊栏目: 中科芯检测事业部第二届检测技术研讨会论文精选
• 页码范围: 46-49
• 页数: 4页
• 分类号: TN307
• 字数: 3135字
• 语种: 中文

摘要

由于进口集成电路停产及采购困难,假冒翻新集成电路流入了高可靠性应用领域,严重影响产品质量可靠性和安全性能.文章结合筛选和DPA过程发现的假冒翻新集成电路实例,介绍识别假冒翻新集成电路的方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	来启发		4	2	1.0	1.0
2	陆定红		5	0	0.0	0.0
3	范春帅		4	0	0.0	0.0