X荧光光谱法测定聚酯过渡料中二氧化硅含量

• 作者: 丁立国 刘殿丽 孙双 徐艳敏 赵波 赵莹 郑立梅
• 来源期刊: 聚酯工业
• 学科: 化学
• 关键词: 特性聚酯 X荧光光谱法 SiO2含量
• 年，卷（期）: 2018,（2）
• 所属期刊栏目: 科学研究
• 页码范围: 22-24
• 页数: 3页
• 分类号: TQ323.4|O657.34
• 字数: 1811字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-8261.2018.02.006

摘要

纤维级聚酯中的添加剂为TiO2,特性聚酯中的添加剂是SiO2,由纤维级聚酯转产特性聚酯的过程中过渡料中TiO2逐渐减小,SiO2含量逐渐增加,过程控制需要快速测定过渡料中SiO2含量.本文建立了用X荧光光谱法,将聚酯过渡料样品粉碎后压片,采用外标工作曲线法快速测定特性聚酯过渡料中SiO2的含量,测定一个样品的时间由原来的灰化法8 h提速至1 h.方法的相对标准偏差为2.8%;标准曲线的线性相关系数为:0.9995.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘殿丽		12	20	3.0	3.0
2	徐艳敏		3	1	1.0	1.0
3	郑立梅		3	1	1.0	1.0
4	赵波		4	6	2.0	2.0
5	赵莹		3	2	1.0	1.0
6	孙双		2	0	0.0	0.0
7	丁立国		2	0	0.0	0.0