影响塑封微电路超声扫描结果的因素分析

• 作者: 袁云华
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 超声扫描 塑封微电路 影响因素
• 年，卷（期）: 2018,（z1）
• 所属期刊栏目: 中科芯检测事业部第二届检测技术研讨会论文精选
• 页码范围: 31-35
• 页数: 5页
• 分类号: TN305.94
• 字数: 3076字
• 语种: 中文

摘要

超声扫描检测技术应用越来越广泛,半导体器件、材料和生物医学等方面均利用了超声扫描技术.对超声扫描检测技术在塑封微电路中的应用进行了简要介绍,并分析影响超声扫描结果的各种因素,提出了一些改进建议.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	袁云华	湖北航天计量研究院计量测试技术研究所	4	3	1.0	1.0