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摘要:
微型磁通门磁强计的测试是其整体研究的重要组成部分.利用探针卡搭建的测试平台并基于LabVIEW进行后续信号处理的测试系统,可在封装前对磁通门探头进行测试,解决了微型磁通门磁强计的测试问题.采用搭建的测试系统分别对微型磁通门探头与磁通门样机进行测试,测试结果发现,微型磁通门探头的最佳激励频率为3.2 MHz,磁通门样机的灵敏度为34.8 V/T,表明测试系统能用于微型磁通门磁强计的测试,为微型磁通门磁强计的研究打下了坚实的基础.
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文献信息
篇名 基于LabVIEW的微型磁通门磁强计测试系统搭建
来源期刊 传感器与微系统 学科 工学
关键词 微机电系统 磁通门磁强计 测试系统 LabVIEW
年,卷(期) 2018,(7) 所属期刊栏目 研究与探讨
研究方向 页码范围 29-31,38
页数 4页 分类号 TP212
字数 1770字 语种 中文
DOI 10.13873/J.1000-9787(2018)07-0029-03
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 杨建中 清华大学精密仪器系 11 52 3.0 7.0
2 刘幂 清华大学精密仪器系 1 0 0.0 0.0
传播情况
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引文网络
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研究主题发展历程
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微机电系统
磁通门磁强计
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LabVIEW
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传感器与微系统
月刊
1000-9787
23-1537/TN
大16开
哈尔滨市南岗区一曼街29号
14-203
1982
chi
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9750
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