磁路温度对霍尔推力器放电热稳定性的影响

• 作者: 于达仁 吴优 张兴浩 李鸿 韩亮
• 来源期刊: 推进技术
• 学科: 航空航天
• 关键词: 霍尔推力器 磁路温度 磁场强度 等离子体放电 热稳定性
• 年，卷（期）: 2018,（1）
• 所属期刊栏目: 电推进和其它推进
• 页码范围: 231-240
• 页数: 10页
• 分类号: V439+.2
• 语种: 中文
• DOI: 10.13675/j.cnki.tjjs.2018.01.026

摘要

为研究磁路高温性质变化对霍尔推力器放电热失稳的贡献及影响机理,对不同磁路温度下推力器的工作磁场强度开展了实验测量,对磁路温度变化与通道内等离子体放电行为变化的交互影响开展了Particle-in-Cell数值模拟研究.实验结果表明,当磁路温度由室温升高到600℃时,推力器的工作磁场强度发生了衰减,尽管衰减量不大(约5%).模拟结果表明,磁路高温引起的场强衰减改变了推力器放电时的电导率及电势分布,进而对电子能量各向分布、粒子密度分布等造成了影响,促进了电子在壁面的通量及能量损失,主导了壁面等离子体沉积功率的增加,从而进一步加剧了磁路温度的增长.这是一个具有正反馈性质的过程;因此,若不能通过外部手段有效控制磁路温度,将诱发霍尔推力器的放电热失稳.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	于达仁	哈尔滨工业大学等离子体推进技术实验室	242	3647	29.0	50.0
2	李鸿	哈尔滨工业大学等离子体推进技术实验室	19	100	6.0	9.0
3	韩亮	哈尔滨工业大学等离子体推进技术实验室	3	8	1.0	2.0
4	吴优	哈尔滨工业大学等离子体推进技术实验室	1	1	1.0	1.0
5	张兴浩		1	1	1.0	1.0