近场微波显微镜对石墨烯的无损检测研究

• 作者: 吴喆 彭坤 曾葆青 杨山 柳建龙
• 来源期刊: 真空电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 石墨烯 检测 近场扫描微波显微镜
• 年，卷（期）: 2018,（1）
• 所属期刊栏目: 研究与设计
• 页码范围: 39-41
• 页数: 3页
• 分类号: TN107
• 字数: 2191字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16540/j.cnki.cn11-2485/tn.2018.01.07

摘要

本文基于近场扫描微波显微镜的基本原理,搭建了一套高效测量石墨烯薄膜材料电磁特性的系统.近场扫描微波显微镜是利用探针靠近样品时,记录谐振腔的品质因数或谐振频率的偏移量,然后通过软件仿真探针样品模型的方法得到样品的介电常数、电导率等物理量,以非接触的方式无损表征了石墨烯薄膜的材料特性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曾葆青	电子科技大学物理电子学院	50	149	7.0	8.0
2	吴喆	电子科技大学物理电子学院	11	18	2.0	3.0
3	柳建龙	电子科技大学物理电子学院	7	18	3.0	4.0
4	彭坤	电子科技大学物理电子学院	2	1	1.0	1.0
5	杨山	电子科技大学物理电子学院	2	5	1.0	2.0