漏电流的伏安特征曲线在分立器件失效分析中的应用

• 作者: 王友彬 陈松
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 特征曲线 失效分析 缺陷
• 年，卷（期）: 2018,（11）
• 所属期刊栏目: 微电子制造与可靠性
• 页码范围: 44-47
• 页数: 4页
• 分类号: TN306
• 字数: 2301字
• 语种: 中文

摘要

针对半导体分立器件漏电流失效在后道封装工厂难以确定失效模式和失效机理的问题,引入漏电流的伏安特征曲线分析的方法,针对各种漏电流失效模式进行实验分析,利用漏电流特征曲线的方法将有可靠性风险的器件筛选出来.通过此方法在后道封装测试工厂大规模推广应用,大大提高了失效分析的效率和准确性,提升了产品质量,节约了成本,很好地达到了客户对产品质量和成本的期望.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王友彬		3	1	1.0	1.0
2	陈松		1	1	1.0	1.0