厚度对Bi薄膜表面特性和电学性质的影响

• 作者: 刘永利 祁阳 董彩虹
• 来源期刊: 金属学报
• 学科: 物理学
• 关键词: Bi薄膜 厚度 稳定性 相变 导电性 第一性原理计算
• 年，卷（期）: 2018,（6）
• 页码范围: 935-942
• 页数: 8页
• 分类号: O484.4
• 语种: 中文
• DOI: 10.11900/0412.1961.2017.00422

摘要

基于第一性原理计算方法研究了厚度对(00l)和(012)取向Bi薄膜稳定性、相变及导电性的影响.计算结果表明,随着厚度的增加,(00l)取向Bi薄膜稳定性增强,且薄膜偶数层稳定性优于奇数层;(01 2)取向Bi薄膜稳定性随着厚度的增加而降低,且在层数为4时,表面能与偶数层(00l)取向的薄膜相当,预示二者在该厚度时较易发生相变,分析认为与薄膜加厚过程中表面态的影响有关.随着厚度的增加,(00l)和(012)取向的Bi薄膜表现出从半导体转变为金属的特性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	祁阳		45	91	5.0	8.0
2	刘永利		7	25	2.0	5.0
3	董彩虹		1	0	0.0	0.0