CRC校验在SPI接口设计中的实现

• 作者: 刘梦影 史兴强 强小燕
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: CRC 串行 SPI 可靠性
• 年，卷（期）: 2018,（11）
• 所属期刊栏目: 电路设计
• 页码范围: 30-35
• 页数: 6页
• 分类号: TN402
• 字数: 3372字
• 语种: 中文

摘要

串行外设接口(SPI,serial peripheral interface)以其高速的传输性能和灵活简单的配置,广泛应用于扩展外设及其数据交换.由于串行通信传输的不确定性以及干扰等原因,通信经常会出现异常情况.为提高SPI通信传输的可靠性,在SPI接口设计中增加循环冗余校验(CRC,cyclic Redundancy Check)功能.运用硬件描述语言Verilog HDL设计并实现了具有CRC校验功能的SPI接口.仿真结果表明,该SPI接口不仅可以高速高效地工作于多种工作模式,且CRC校验功能能够保证通信传输的可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘梦影		5	12	2.0	3.0
2	强小燕		2	5	1.0	2.0
3	史兴强		4	22	3.0	4.0