超大规模FPGA的单粒子效应脉冲激光测试方法

• 作者: 刘宇翔 张战刚 恩云飞 杨凯歌 雷志锋 黄云
• 来源期刊: 微电子学
• 学科: 工学
• 关键词: FPGA 单粒子效应 脉冲激光 辐照测试 单粒子翻转极性
• 年，卷（期）: 2018,（4）
• 所属期刊栏目: 产品与可靠性
• 页码范围: 548-554
• 页数: 7页
• 分类号: TN406|V417+.6
• 语种: 中文
• DOI: 10.13911/j.cnki.1004-3365.170385

摘要

建立了一种28 nm HPL硅工艺超大规模SRAM型FPGA的单粒子效应测试方法.采用静态测试与动态测试相结合的方式,通过ps级脉冲激光模拟辐照实验,对超大规模FPGA进行单粒子效应测试.对实验所用FPGA的各敏感单元(包括块随机读取存储器、可配置逻辑单元、可配置存储器)的单粒子闩锁效应和单粒子翻转极性进行了研究.实验结果证明了测试方法的有效性,揭示了多种单粒子闩锁效应的电流变化模式,得出了各单元的单粒子效应敏感性区别.针对块随机读取存储器、可配置逻辑单元中单粒子效应翻转极性的差异问题,从电路结构方面进行了机理分析.