厚膜熔断器串电阻并联使用的可靠性研究

• 作者: 周婉恬 孙鹏远 彭昌文 杨成 杨舰 雷巧林
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 厚膜熔断器 串电阻 并联使用 可靠性
• 年，卷（期）: 2018,（5）
• 所属期刊栏目: 电子元器件及可靠性
• 页码范围: 24-28
• 页数: 5页
• 分类号: TM563
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2018.05.005

摘要

以航天工程型号使用的某型厚膜熔断器作为研究对象,对其在串电阻并联使用模式与单只单独使用模式条件下,在不同的过载电流工况下的熔断保护特性和脉冲承载特性的与差异进行了对比研究.结果表明:熔断器中电阻并联使用将为支路上的熔断器起到电流降额作用,同时增大其临界熔断电流值,延长其熔断时间,提高其脉冲承载能力,但不利于快速地切断故障电流.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	彭昌文		6	6	1.0	2.0
2	杨舰		3	4	1.0	2.0
3	孙鹏远		3	4	1.0	2.0
4	雷巧林		2	1	1.0	1.0
5	杨成		2	1	1.0	1.0
6	周婉恬		1	0	0.0	0.0