高精度基准电压测试技术研究

• 作者: 刘继光 程法勇
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 基准电压芯片 高精度 差分放大
• 年，卷（期）: 2018,（11）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 15-17,29
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 2070字
• 语种: 中文

摘要

基准电压芯片的输出电压精度是最关键的参数,在生产制造时测试环节非常重要,这就对芯片测试提出了更高的要求,测试系统的精度必须高于产品的要求精度.测试系统的精度不能满足要求时就需要对待测信号进行放大处理,在测试结果中按照放大的实际倍数换算回来.ADR44X的输出精度要求为1 mV,测试系统的精度为2.5 mV,将信号放大100倍后测试就可以满足要求,也基本可以满足大部分基准电压IC的精度要求.经过和高精度仪器的对比验证,该方案可以满足ADR44X的精度要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	程法勇	中国电子科技集团公司第五十八研究所	3	1	1.0	1.0
2	刘继光	中国电子科技集团公司第五十八研究所	1	1	1.0	1.0