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摘要:
通过采用外量子测试、成分测试、可靠性测试等方法对太阳电池电致发光(EL)漏电原因及漏电电池的可靠性进行了简要分析,结果显示,产生漏电的原因主要是由于硅片切割时引入了金属杂质,导致少子寿命低,漏电电池片衰减率及组成组件后工作温度均大于正常电池片.
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文献信息
篇名 太阳电池EL漏电分析及可靠性评估
来源期刊 太阳能 学科
关键词 EL漏电 外量子 成分测试 金属杂质 少子寿命
年,卷(期) 2018,(11) 所属期刊栏目 技术产品与工程
研究方向 页码范围 45-51
页数 7页 分类号
字数 3349字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1003-0417.2018.11.010
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研究主题发展历程
节点文献
EL漏电
外量子
成分测试
金属杂质
少子寿命
研究起点
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研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
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期刊影响力
太阳能
月刊
1003-0417
11-1660/TK
16开
北京市海淀区花园路3号
2-164
1980
chi
出版文献量(篇)
5613
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10
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15507
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