X射线荧光光谱法测定硅酸锆方法研究

• 作者: 梁艳珍 黄健
• 来源期刊: 陶瓷学报
• 学科: 工学
• 关键词: X射线荧光光谱法 硅酸锆 校准曲线
• 年，卷（期）: 2018,（6）
• 所属期刊栏目: 研究与探索
• 页码范围: 749-754
• 页数: 6页
• 分类号: TQ174.75
• 字数: 3587字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13957/j.cnki.tcxb.2018.06.015

摘要

以ZrSiO4、SiO2、ZrO2、钾长石等标准物质及它们的合成标样来拟合校准曲线,建立了X射线荧光光谱(XRF)对锆石等含锆化合物的精确测定,同时测定硅酸锆样品中SiO2、Al2O3、Fe2O3、TiO2、CaO、MgO、K2O、Na2O、P2O5、SO3、ZrO2、HfO2等主次组分.发现样品与99.5％的四硼酸锂做熔剂在熔融稀释比为1:10时混合均匀,加入NH4Br为脱模剂的情况下,在1050-1100℃下预熔180 s后熔融900 s并静止10 s,制得测定熔融片,其结果与标准物质认定值基本一致,各组分测定结果的测量误差小于0.5％,相对标准偏差(RSD,n=5)小于10％.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄健		8	16	3.0	4.0
5	梁艳珍		5	10	2.0	3.0