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摘要:
高速硅基光电探测器价格低廉且易于和光接收机集成,在短距离光通信中被广泛应用.对基于绝缘硅(SOI)和外延(EPI)两种不同衬底的互补金属氧化物(CMOS)工艺的光电探测器进行了理论模拟和实验研究,理论模拟和实验规律一致.实验表明,研制的基于SOI衬底的光电探测器的小信号带宽最高为205MHz,响应度为0.051A/W;基于EPI衬底的光电探测器在相同条件下最高带宽为131MHz,响应度为0.21A/W.
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文献信息
篇名 基于SOI衬底和外延衬底的高速光电探测器研究
来源期刊 光通信技术 学科 工学
关键词 光电探测器 SOI/EPI衬底 互补金属氧化物工艺 小信号带宽 响应度
年,卷(期) 2018,(8) 所属期刊栏目 光器件
研究方向 页码范围 37-40
页数 4页 分类号 TN36
字数 1763字 语种 中文
DOI 10.13921/j.cnki.issn1002-5561.2018.08.010
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王华强 北京工业大学信息学部 4 42 2.0 4.0
2 李冲 北京工业大学信息学部 5 7 2.0 2.0
3 刘巧莉 北京工业大学信息学部 4 5 2.0 2.0
4 丰亚洁 北京工业大学信息学部 2 0 0.0 0.0
5 何晓颖 北京邮电大学电子工程学院信息光子学与光通信国家重点实验室 1 0 0.0 0.0
6 郭霞 北京邮电大学电子工程学院信息光子学与光通信国家重点实验室 4 3 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
光电探测器
SOI/EPI衬底
互补金属氧化物工艺
小信号带宽
响应度
研究起点
研究来源
研究分支
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光通信技术
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大16开
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1977
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