基于CCD标定的微像素精度图像定位技术

• 作者: 张泽 李登 梁欣丽 肖思
• 来源期刊: 半导体光电
• 学科: 工学
• 关键词: 形心定位 CCD标定 图像重构 微像素 高斯曲面拟合
• 年，卷（期）: 2018,（5）
• 所属期刊栏目: 光电系统
• 页码范围: 722-726,732
• 页数: 6页
• 分类号: TP391.4
• 语种: 中文
• DOI: 10.16818/j.issn1001-5868.2018.05.023

摘要

基于光电成像器件CCD的点目标定位技术被广泛运用于天文定位、侦察等民用及军用方面.传统点目标定位精度一般为亚像素级,受CCD自身成像误差限制,目标定位精度难以大幅提高.提出通过干涉条纹对CCD进行标定,从而得到CCD频域像素响应函数的精确表达式,由此重构高质量的目标入射光场图像,进而提高光电成像系统对点目标定位的精度.首先建立了干涉条纹标定CCD及目标光场图像重构的理想模型,并通过仿真验证了点目标图像重构效果以及最终点目标的定位精度.仿真结果表明,经干涉条纹标定CCD后,重构的目标光场图像质量得到大幅度的提升,接近于CCD像面前入射光场图像,通过高斯曲面拟合得到点目标形心坐标及其微位移的提取精度均达微像素级别,相比于传统的亚像素定位,定位精度得到了大幅度的提高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张泽	中国科学院光电研究院	47	373	10.0	18.0
2	李登	中国科学院光电研究院	1	4	1.0	1.0
6	肖思	中国科学院光电研究院	1	4	1.0	1.0
7	梁欣丽	中国科学院光电研究院	2	4	1.0	2.0