固态微波器件防自激测试夹具研究

• 作者: 唐莎 孙宇 王之哲 王小强 陈思
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: 固态微波器件 测试夹具 自激振荡 产生机理 消除措施 设计准则
• 年，卷（期）: 2018,（12）
• 所属期刊栏目: 可靠性
• 页码范围: 72-76
• 页数: 5页
• 分类号: TN606
• 字数: 3008字
• 语种: 中文
• DOI: 10.14106/j.cnki.1001-2028.2018.12.013

摘要

固态微波器件能够实现微波功率的发射、 放大、 控制和接收,在移动通讯、 雷达等领域有着重要的应用.但是固态微波器件在实际测试中易发生自激振荡,影响其正常工作,甚至会造成永久性的损坏.而良好的测试夹具设计可以有效防止自激振荡现象的发生.因此本文通过分析固态微波器件自激振荡的产生机理,研究制定自激振荡的有效消除措施,提出了固态微波器件防自激测试夹具设计准则,并选取典型GaN微波功率晶体管开展夹具研制加以验证.器件多次重复测试均未发生自激振荡,而且测试结果一致性较好,表明形成的固态微波器件防自激测试夹具设计准则合理可行,能够有助于实现固态微波器件性能参数的精确测试,支撑研制单位的工艺改进和质量提升.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王小强		35	41	3.0	4.0
2	孙宇		16	16	2.0	3.0
3	唐莎		4	8	1.0	2.0
4	王之哲		13	6	1.0	2.0
5	陈思		5	1	1.0	1.0