30V NLDMOS结构优化及SEB能力提高

• 作者: 吴建伟 李燕妃 洪根深 顾祥
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: TCAD 抗辐射加固 单粒子烧毁 P型埋层 LDMOS
• 年，卷（期）: 2018,（10）
• 所属期刊栏目: 微电子制造与可靠性
• 页码范围: 36-39
• 页数: 4页
• 分类号: TN306
• 字数: 2319字
• 语种: 中文

摘要

随着空间技术和核技术的快速发展,越来越多的先进半导体器件应用于军事和航天电子系统.利用TCAD模拟仿真软件,设计一种抗辐射加固30VN型LDMOS器件结构,开展LDMOS器件的单粒子烧毁效应(SEB)研究.诱发单粒子烧毁效应源于N型MOSFET器件中的寄生NPN三极管在光电流作用下开启并维持工作.从版图设计和工艺设计角度考虑提高器件的抗单粒子烧毁能力的因素,包括LDD浓度、LDD长度、P型埋层结构、工作电压和LET能量等.通过抗辐射设计和工艺加固,获得击穿电压34.6V、导通电阻只有10.04 mΩ· mm2的LDMOS器件,同时在工作电压30V时,器件的抗单粒子烧毁能力达到100 MeV.cm2/mg.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	洪根深	中国电子科技集团公司第五十八研究所	33	74	5.0	6.0
2	顾祥	中国电子科技集团公司第五十八研究所	9	10	2.0	2.0
3	吴建伟	中国电子科技集团公司第五十八研究所	25	39	4.0	4.0
4	李燕妃	中国电子科技集团公司第五十八研究所	3	7	2.0	2.0