基于CompactRIO的高速转塔式测试分选控制系统设计

• 作者: 刘泽军 周芸 芦俊
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: CompactRIO 测试分选 三层架构
• 年，卷（期）: 2018,（1）
• 所属期刊栏目: 控制技术
• 页码范围: 95-98
• 页数: 4页
• 分类号: TP23
• 语种: 中文
• DOI: 10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2018.01.024

摘要

对高速转塔式测试分选控制系统进行设计;介绍了单颗芯片测试的整个工序流程,在此基础上采用CompactRIO为核心控制器,运用模块化设计方法建立了分选机系统控制框架,各模块与控制器之间的连接通过总线或者I/O口连接在一起;在软件架构上采用三层软件架构的设计方法对分选机控制系统进行设计,讨论了三层架构即表示层,逻辑层,操作层在转塔式测试分选机软件架构上的作用,且三层之间的联系是表示层联系逻辑层,逻辑层联系操作层,操作层与外界各个硬件的沟通,此外对芯片检测数据流存储进行了设计;这种控制系统设计能较大地提高转塔式测试分选机的工作效率和运行速度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘泽军		2	2	1.0	1.0
2	芦俊		7	4	1.0	1.0
3	周芸		4	2	1.0	1.0