APD探测系统的噪声特性及其影响因素研究

• 作者: 刘贺雄 周冰 高宇辰
• 来源期刊: 激光技术
• 学科: 工学
• 关键词: 探测器 噪声特性 高光谱 雪崩光电二极管 背景辐射
• 年，卷（期）: 2018,（6）
• 所属期刊栏目: 激光与光电子技术应用
• 页码范围: 862-867
• 页数: 6页
• 分类号: TN215
• 字数: 3835字
• 语种: 中文
• DOI: 10.7510/jgjs.issn.1001-3806.2018.06.026

摘要

为了研究噪声对雪崩二极管(APD)探测能力的影响,采用高光谱图像计算辐射功率的方法,对APD探测系统的各类噪声的成因及特点进行了分析,在此基础上归纳了影响系统探测能力的因素,并对白天状态下背景光功率与信噪比关系、倍增因子与温度关系进行了仿真,利用高光谱图像的光谱曲线计算背景辐射经大气湍流、大气分子和气溶胶影响后的功率,进而得到经大气传输后的背景辐射与APD噪声关系.结果表明,偏置电压为340V、背景光由0.07mW增强到0.35mW时,噪声有效值由108mW增强到150mW,表明同一偏压下,APD噪声有效值会随着自然背景光功率的增强而增强;背景光为0.35mW、偏置电压由320V增强到340V时,噪声有效值由23mW增强到150mW,表明同一背景光下,噪声有效值会随偏置电压升高而升高,且增长速率逐渐加快.此研究表明通过高光谱图像可得到特定区域的背景辐射功率,并明确了背景辐射对APD噪声特性造成的影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘贺雄	陆军工程大学石家庄校区电子与光学工程系	11	7	2.0	2.0
2	周冰	陆军工程大学石家庄校区电子与光学工程系	14	10	2.0	2.0
3	高宇辰	陆军工程大学石家庄校区电子与光学工程系	2	6	2.0	2.0