一种优化FPGA测试配置时间的方法

• 作者: 肖艳梅 陆锋
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: ATE FPGA 4X配置方式 在系统快速配置
• 年，卷（期）: 2018,（10）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 13-16
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 2250字
• 语种: 中文

摘要

随着现场可编程门阵列(FPGA)规模发展到千万门级以上,配置向量越来越大,超过95％的FPGA制造测试时间用于加载测试配置比特流.为实现FPGA的快速配置测试,提出了一种FPGA快速测试配置及实现的方法.采用V93000测试系统,通过在一个周期内加载4行配置向量对电路配置比特流的测试时间进行优化(即4X配置方式).以Xilinx公司Virtex-7系列FPGA-XC7VX485T为例进行了测试验证.测试数据表明,与一般配置方法相比,4X配置方式下FPGA单次配置时间减少了74.1％,解决了FPGA测试中数据配置与测试时间的矛盾.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陆锋	江南大学物联网工程学院	19	27	3.0	4.0
3	肖艳梅	江南大学物联网工程学院	4	3	1.0	1.0