基于ATE的FPGA测试技术研究和应用

• 作者: 王华
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: FPGA测试 ATE 配置矢量 激励矢量 自动测试
• 年，卷（期）: 2018,（7）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 12-15,21
• 页数: 5页
• 分类号: TN407
• 字数: 3124字
• 语种: 中文

摘要

随着集成电路技术的高速发展,基于可编程互连资源的现场可编程门阵列(FPGA)器件的应用越来越广泛,FPGA区别于ASIC器件的重要特征是可以实现在制造后重新编程为所需的应用或功能要求.随着FPGA的规模不断扩大,对其故障检测、可靠性验证的要求也越来越高.介绍了FPGA在自动测试设备(ATE)上的测试流程,详细介绍了如何通过硬件设计和软件方法在Advantest公司V93000自动测试设备上实现最大矢量深度扩展,最后通过Virtex-4 FPGA实际实施案例验证了该方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王华		4	14	2.0	3.0