气隙对电流比较仪磁屏蔽屏蔽效能影响的研究

• 作者: 刘朋远 李冬 王雪 郑天宇 陈德智 项琼
• 来源期刊: 计量学报
• 学科: 工学
• 关键词: 计量学 电流比较仪 磁屏蔽效能 气隙 有限元法
• 年，卷（期）: 2018,（4）
• 页码范围: 549-553
• 页数: 5页
• 分类号: TB972
• 字数: 2355字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-1158.2018.04.21

摘要

电流比较仪的磁屏蔽是减小磁性误差,提高测量精度的重要组成部分,但实际中磁屏蔽往往存在气隙导致屏蔽效能下降,影响比较仪的测量精度.通过建立有限元模型,研究磁屏蔽上引线穿出气隙对屏蔽效能的影响,得到了屏蔽效能随气隙高度变化的规律.对于该模型,气隙高度小于10 mm时,屏蔽效能下降不大;当气隙高度大于10 mm后,屏蔽效能下降明显.最后,搭建实验平台验证气隙对屏蔽效能的影响,实验结果与有限元计算结果相吻合,小气隙对屏蔽效能的影响不大,当气隙超过一定高度后对屏蔽效能影响很大,实际设计中应予以避免.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈德智	华中科技大学强电磁工程与新技术国家重点实验室	27	166	6.0	11.0
2	李冬	华中科技大学强电磁工程与新技术国家重点实验室	26	61	4.0	7.0
3	项琼		12	64	5.0	7.0
4	王雪		2	1	1.0	1.0
5	郑天宇	华中科技大学强电磁工程与新技术国家重点实验室	1	1	1.0	1.0
6	刘朋远		5	4	1.0	2.0