下一代光传输系统中超高速ADC芯片性能测试方法

• 作者: 菅端端 钟明琛
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 超高速模数转换器 下一代光传输系统 增益补偿 插损消除
• 年，卷（期）: 2018,（9）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 2251-2255
• 页数: 5页
• 分类号: TN06
• 字数: 3684字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2018.09.029

摘要

针对下一代光传输系统对模数转换器(ADC)高采样率、大带宽的要求,提出一种针对该类ADC动态性能的测试方法.通过分析光传输系统中ADC芯片的特点,解决了采样时钟无法直接测量,输出数据难以捕获,分辨率不易统计,插损非线性导致带宽测量偏差等问题,并将该方法应用于光传输、雷达、卫星等高数据率场景所用超高速ADC芯片的评测中.测试结果表明,该方法解决了最高采样率70GSPS带宽16GHz的超高速ADC测试的关键问题,基本满足下一代400Gbps光传输系统对ADC动态性能测试的要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	钟明琛		10	33	3.0	5.0
2	菅端端		4	5	2.0	2.0