电源类芯片测试修调方法及问题分析

• 作者: 余庆 张敏森 杨勇
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 熔丝 二极管 修调 补偿 调整
• 年，卷（期）: 2018,（3）
• 所属期刊栏目: 通用测试
• 页码范围: 11-14
• 页数: 4页
• 分类号: TN86
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2018.03.004

摘要

IC芯片设计中为了降低工艺波动对产品良率的影响,提高测试成品率保证参数一致性,通常采用修调方式,尤其在电源类芯片设计中较常见.其中最典型的修调方式就是产品在晶圆测试时,通过熔丝或二极管的修调补偿来调整电路的输出基准和频率,也有的是调整电流.该文主要通过几个电源类芯片测试实例来讲解CP测试中常见的TRIMMING方法,探讨修调测试中易出现的问题和相应的解决方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张敏森		2	3	1.0	1.0
2	余庆		4	5	2.0	2.0
3	杨勇		1	2	1.0	1.0