K荧光装置主要性能研究

• 作者: 吴金杰 李梦石 路兴强 郭思明
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: K荧光 光子注量 荧光X射线 K吸收缘 次级过滤
• 年，卷（期）: 2018,（6）
• 页码范围: 778-784
• 页数: 7页
• 分类号: TB98
• 字数: 2447字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2018.06.008

摘要

K荧光的注量率和辐射野的大小是标定探测器的两个重要指标,利用高纯锗探测器与电离室对Zr、Cd、Cs2SO4 Sm2O3 Er2O3和W六种常见的辐射体进行了注量率的测量.结果 显示注量率在107 m-2·s-1量级,测量得到的能谱与理论能量相对比,验证了该装置的准确性.利用PTW30013电离室对K荧光装置的辐射野进行了测量,结果显示水平方向辐射野均匀性大于95％的直径范围为120 mm,竖直方向上辐射野大于95％的直径范围为100 mm.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴金杰		68	186	7.0	9.0
2	路兴强		25	30	4.0	4.0
3	郭思明		10	7	2.0	2.0
4	李梦石		2	1	1.0	1.0