紫外光谱对含芳香烃结构表面活性剂定性分析

• 作者: 冯桂华 邓斐 阮铁民 陈凤鸣 陈小利 陈开茂
• 来源期刊: 针织工业
• 学科: 工学
• 关键词: 表面活性剂 紫外光谱 芳香烃 特征吸收峰 谱带 定性分析
• 年，卷（期）: 2018,（12）
• 所属期刊栏目: 印染技术
• 页码范围: 52-54
• 页数: 3页
• 分类号: TS193.2
• 字数: 2250字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-4033.2018.12.015

摘要

紫外光谱是进行物质定性分析的有效方法,对芳香烃检测具有较高的灵敏度.为探索表面活性剂定性分析方法,文中选择结构相似的含有芳香烃和非芳香烃的阳离子表面活性剂、非离子表面活性剂、阴离子表面活性剂,采用紫外光谱进行分析,比较相似结构的表面活性剂在紫外光谱区的吸收特性.结果表明:分子中含芳香烃结构的表面活性剂在224 nm、275 nm附近有吸收峰,而不合芳香烃结构的表面活性剂没有明显吸收峰,紫外光谱分析可用于表面活性剂定性分析.相似结构的表面活性剂,当同时具有芳香烃结构时可以通过谱带宽窄进行定性分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	冯桂华		3	3	1.0	1.0
2	陈开茂		2	3	1.0	1.0
3	陈凤鸣		3	3	1.0	1.0
4	邓斐		5	1	1.0	1.0
5	陈小利		11	2	1.0	1.0
6	阮铁民		6	0	0.0	0.0