不同镀膜流程对多晶硅背钝化效率和EL的影响

• 作者: 张剑峰 张斌 江坚 王仕鹏 陆川 陈刚 黄海燕
• 来源期刊: 太阳能
• 关键词: PECVD 背正背流程 舟印 电池片效率 背钝化 EL ALD
• 年，卷（期）: 2018,（3）
• 所属期刊栏目: 技术产品与工程
• 页码范围: 48-49,53
• 页数: 3页
• 字数: 1607字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0417.2018.03.008

摘要

介绍了一种通过调整背钝化工艺流程改善多晶硅太阳电池缺陷的方法,通过将正背背流程改为背正背流程,电池片EL舟印的问题可以解决,同时还可提升电池片效率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	江坚		4	0	0.0	0.0
2	陈刚		3	0	0.0	0.0
3	张斌		2	0	0.0	0.0
4	张剑峰		5	5	1.0	2.0
5	王仕鹏		24	37	4.0	5.0
6	黄海燕		23	39	4.0	5.0
7	陆川		27	46	4.0	5.0