基于失效特征的静电损伤分析研究

• 作者: 何胜宗 季启政 梁晓思 王有亮 胡凛
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: 失效机理 失效分析 静电放电 电子元器件 红外发射显微镜成像 失效鉴别
• 年，卷（期）: 2018,（4）
• 所属期刊栏目: 可靠性
• 页码范围: 88-92
• 页数: 5页
• 分类号: TB497
• 字数: 4729字
• 语种: 中文
• DOI: 10.14106/j.cnki.1001-2028.2018.04.017

摘要

静电放电损伤失效分析是电子制造企业分析产品质量问题和提高产品质量可靠性的难点和关键技术之一.总结梳理生产制造过程中常见的静电源和释放通路,研究元器件静电放电损伤的敏感结构,研究静电放电损伤的失效机理及其典型形貌特征,探讨静电损伤(ESD)、过电损伤(EOS)和缺陷诱发失效的鉴别方法.最后将这些方法应用在具体的失效案例中,为企业开展静电放电失效分析工作提供一种有效的鉴别分析方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	季启政		32	62	5.0	6.0
2	何胜宗		6	25	3.0	5.0
3	王有亮		4	28	2.0	4.0
4	梁晓思		2	2	1.0	1.0
5	胡凛		1	0	0.0	0.0