基于结构优化的微型磁通门降噪技术研究

• 作者: 吕辉 杨慧慧
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: 微型磁通门 多孔铁芯 性能测试 噪声 拓扑结构 优化
• 年，卷（期）: 2018,（4）
• 所属期刊栏目: 研究与试制
• 页码范围: 67-71,78
• 页数: 6页
• 分类号: TP212
• 字数: 3863字
• 语种: 中文
• DOI: 10.14106/j.cnki.1001-2028.2018.04.012

摘要

对铁芯结构的改进有利于降低微型磁通门传感器的噪声,本文对铁芯结构进行了拓扑分析与优化,并采用标准MEMS工艺制备了相应的多孔铁芯结构微型磁通门,对所制备的微型磁通门进行了主要噪声指标的综合测试与对比分析.实验结果表明,改进后的多孔铁芯结构能很好地降低微型磁通门传感器的噪声,提高器件的综合性能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吕辉	河南理工大学电气工程与自动化学院	21	78	6.0	7.0
5	杨慧慧	河南工业和信息化职业学院电气工程系	3	3	1.0	1.0