高压支柱瓷绝缘子小角度纵波探伤缺陷案例分析

• 作者: 刘学广 华正轩 孙庆峰 柳青山 邹君文 骆宗义
• 来源期刊: 浙江电力
• 学科: 工学
• 关键词: 高压支柱瓷绝缘子 小角度纵波探伤 数字成像技术 缺陷 原因分析
• 年，卷（期）: 2018,（9）
• 所属期刊栏目: 输变电技术
• 页码范围: 28-30
• 页数: 3页
• 分类号: TM855
• 字数: 1979字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19585/j.zjdl.201809006

摘要

针对某供电公司220kV基建变电站35kV高压支柱瓷绝缘子小角度纵波探伤缺陷案例,运用X射线数字成像技术检测、绝缘电阻试验、泄漏电流试验、解剖后宏观检查、孔隙性试验等技术手段,对小角度纵波探伤缺陷支柱瓷绝缘子进行了检测分析.试验结果表明,该支柱瓷绝缘子DR检测无异常缺陷显示,但其绝缘电阻值偏低、泄漏电流超标,解剖后发现瓷体内部存在大面积黄芯,且孔隙性试验不合格.综合分析检测结果,判定该支柱瓷绝缘子不符合挂网运行使用要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邹君文		5	15	3.0	3.0
2	孙庆峰		6	9	2.0	3.0
3	柳青山		3	5	1.0	2.0
4	华正轩		3	7	2.0	2.0
5	骆宗义		2	11	2.0	2.0
6	刘学广		1	4	1.0	1.0