DAST晶体XPS数据分析基准的讨论

• 作者: 李雨辰 王鑫 蔺娴
• 来源期刊: 材料导报
• 学科: 工学
• 关键词: DAST 晶体 XPS 数据分析 基准
• 年，卷（期）: 2018,（z2）
• 所属期刊栏目: 光、电、磁功能材料
• 页码范围: 85-88
• 页数: 4页
• 分类号: TB304
• 字数: 2814字
• 语种: 中文

摘要

为了方便地表征4-(4-二甲基氨基苯乙烯基)甲基吡啶对甲基苯磺酸盐(DAST)的性质,采用X射线光电子能谱仪(XPS)分别对两种原粉的DAST晶体、吸附有一定量水的DAST籽晶和新制备的DAST籽晶进行了表面元素分析.通过分析数据,并选取其中合适峰位的元素作为数据分析时的基准.结果 表明,DAST晶体中的C、N、O元素均不适合作为XPS数据分析的基准元素,可能来源于表面沾污的Si元素也不能作为数据分析的基准,而将晶体中硫元素(167.50 eV)作为基准,校准数据后分析C、N元素,其结果是合理的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蔺娴	中国电子科技集团公司第四十六研究所质检中心	5	4	1.0	2.0
2	王鑫	中国电子科技集团公司第四十六研究所质检中心	23	33	4.0	4.0
3	李雨辰	中国电子科技集团公司第四十六研究所质检中心	6	14	3.0	3.0