二次离子质谱-激光扫描共聚焦显微镜联用对单细胞显微成像-原理及应用

• 作者: 刘哲 吴魁 汪福意 罗群 贾菲菲 赵耀 邵长芳
• 来源期刊: 分析化学
• 关键词: 二次离子质谱成像 激光扫描共聚焦显微成像 联用成像 单细胞成像 细胞生物学 评述
• 年，卷（期）: 2018,（7）
• 所属期刊栏目: 评述与进展
• 页码范围: 1005-1016
• 页数: 12页
• 字数: 10364字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11895/j.issn.0253-3820.181110

摘要

二次离子质谱(SIMS)分析主要用于半导体、地质等领域材料表面分析,随着科学仪器技术的发展,近年来, SIMS在生命科学领域中得到了越来越广泛的应用. SIMS可以实现对样品表面的质谱分析、化学成像以及深度剖析.三维SIMS成像分析的横向分辨率可达80~100 nm,纵向分辨率1~5 nm.但是,由于缺少特异性指示亚细胞结构的碎片离子,单细胞SIMS成像分析仍然面临着诸多挑战.激光扫描共聚焦显微成像(LSCM)作为一种单细胞成像技术已日趋成熟,可以对单细胞中的荧光分子或者对荧光标记的目标分子、细胞器成像,获得高分辨率亚细胞结构成像图.因而,LSCM在单细胞形貌分析上的优势和SIMS在单细胞化学成像方面的优势可以有效互补,其联合应用能显著提升单细胞分析的应用范围、深度和结果的准确性.本文重点介绍SIMS成像以及SIMS-LSCM联用成像在单细胞成像研究中的应用进展,在总结、评述该领域代表性工作的同时,对SIMS-LSCM联用成像在化学和生命科学研究,特别是在细胞生物学和药物发现领域的应用前景进行了展望.