磁耦合谐振串并式无线充电装置可靠性研究

• 作者: 何冠男 周思诺 崔玉龙 张静 苗桂君
• 来源期刊: 电器与能效管理技术
• 学科: 工学
• 关键词: 磁耦合谐振 串并式结构 无线电能传输 软开关 可靠性分析
• 年，卷（期）: 2018,（2）
• 所属期刊栏目: 研究与分析
• 页码范围: 32-36,50
• 页数: 6页
• 分类号: TM910.6
• 字数: 3267字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16628/j.cnki.2095-8188.2018.02.005

摘要

分析了串并(SP)结构磁耦合谐振式无线充电技术的电路原理,以及SP结构无线电能传输功率、频率、距离与效率之间的关系,分析了影响SP结构的可靠性的因素.重点分析了功率器件的开关损耗对可靠性的影响,比较了硬开关方式与软开关方式对SP结构电路可靠性的影响,研究了基于锁相技术的软开关技术,提高了装置工作频率与效率.分析与试验表明,采用基于锁相技术的软开关技术,有效地降低器件开关损耗,提高了装置可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	苗桂君		8	124	5.0	8.0
2	崔玉龙		43	342	8.0	18.0
3	张静		44	154	8.0	10.0
4	何冠男		3	12	2.0	3.0
5	周思诺		3	11	2.0	3.0