集成电路测试系统MSA方法探索

• 作者: 何燕青 傅铮翔 涂继云
• 来源期刊: 电子质量
• 学科: 工学
• 关键词: MSA GRR(重复性、再现性) 偏倚 线性 稳定性 校正球
• 年，卷（期）: 2018,（12）
• 所属期刊栏目: 电磁兼容
• 页码范围: 128-131
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 3488字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2018.12.034

摘要

集成电路的测试过程是对产品功能、参数评估的重要环节,测试质量直接影响到对产品质量的判断.而测试质量又与测试系统本身的"五性"密切相关,所以要求对测试系统本身进行分析判定,即必须做MSA.但由于MSA的"五性"分析方法相对复杂,以及集成电路测试系统情况也相对比较复杂和特殊,如果完全照搬资料文献上的MSA方法用于集成电路测试系统分析,会给实际工作带来很多麻烦,而且各种文献资料关于"五性"分析的顺序说法不一.该文从实际工作出发,阐述了"五性"分析的基本概念,分析了集成电路测试系统MSA工作遇到的困难和困惑,给出了对集成电路的测试系统如何合理进行MSA的方法探索.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何燕青	中国电子科技集团公司第五十八研究所	2	0	0.0	0.0
2	涂继云	中国电子科技集团公司第五十八研究所	3	5	1.0	2.0
3	傅铮翔	中国电子科技集团公司第五十八研究所	3	2	1.0	1.0