ZnO压敏电阻在直流电压作用下老化劣化的分析

• 作者: 李祥超 马骁骐
• 来源期刊: 电瓷避雷器
• 关键词: ZnO压敏电阻 直流老化 肖特基势垒 离子迁移
• 年，卷（期）: 2018,（2）
• 所属期刊栏目: 避雷器
• 页码范围: 1-7
• 页数: 7页
• 字数: 4867字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16188/j.isa.1003-8337.2018.02.001

摘要

针对ZnO压敏电阻在直流电压作用下老化劣化的问题,通过对ZnO压敏电阻内部离子迁移和晶界肖特基势垒的理论分析.采用ZnO压敏电阻正极性直流作用和负极性直流交替作用的试验方法.利用理论与试验相结合,得出以下结论:1)老化前压敏电阻正、负极性伏安特性曲线几乎一致,没有产生极性效应;2)在单一正极性直流作用下,压敏电阻发生老化,且随时间和电流的增加,正极性老化程度大于负极性;3)在正、负极性直流交替作用下,压敏电阻老化时间推迟,程度减小,压敏电压和漏电流变化趋势较单一正极性趋势减弱,且极性效应趋于消失;4)分布电容变化平缓,除与老化前数值相比有些许减小外,并无巨大波动.该结论在防雷的实际应用中有重要的参考价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李祥超	南京信息工程大学气象灾害预报预警与评估协同创新中心	72	323	10.0	16.0
2	马骁骐	南京信息工程大学气象灾害预报预警与评估协同创新中心	1	1	1.0	1.0