摘要:
目的 探讨新生儿低血糖脑损伤的MRI表现特点及其诊断价值.方法 回顾性分析32例经临床确诊为低血糖脑损伤新生儿的MRI资料,常规进行1.5T MR检查,扫描序列包括T1WI、T2WI、液体衰减反转恢复(FLAIR),及扩散加权成像(DWI),扫描时间均在出生后6 d内进行.其中8例在第一次检查后(8~14)d内再次行MRI扫描.结果 32例患儿中,12例T1WI序列表现异常,受累部位9例表现为稍低信号影,3例表现为稍高信号影;21例T2WI序列表现为受累部位稍高信号影;17例FLAIR序列表现异常,受累部位10例表现为稍高信号影,7例表现为稍低信号影;32例在DWI上表现为高信号影,受累部位ADC值降低,呈低信号影.受累脑区包括双侧顶枕叶皮层及皮层下脑白质21例,胼胝体12例,放射冠区9例,双侧基底节区9例,双侧颞叶后部皮层下脑白质3例,双侧额叶后部皮层下脑白质4例,大脑半球广泛5例,内囊2例,丘脑2例.结论 新生儿低血糖脑损伤以双侧顶枕叶皮层及皮层下脑白质,胼胝体,放射冠区及双侧基底节区最常受累,常对称性分布,具有一定的特征性.DWI序列较常规T1WI、T2WI、FLAIR序列在新生儿低血糖脑损伤的诊断及鉴别诊断具有明显的优势,为临床诊疗提供了有力的影像学参考依据,可以作为常规序列进行扫描.